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L’équipe SMARTIES est une équipe d’une trentaine de chercheurs dont les activités sont centrées sur les méthodes de conception et la modélisation de dispositifs, systèmes et circuits intégrés conçus en technologie CMOS, à l’aide de technologies émergentes (CNT, CNTFET, MRAM, …), selon des approches de conception alternatives (3D, adiabatique, etc.).

L’ensemble de ces travaux visent à développer des systèmes et circuits intégrés offrant de hautes performances et une consommation d’énergie réduite, mais également des circuits adaptatifs à leur état de fonctionnement et à l’environnement de sorte à garantir la fonctionnalité, la sureté et la sécurité des informations traitées ou bien satisfaire des contraintes applicatives spécifiques.

Dans cette démarche SmartIES se caractérise par sa volonté de conduire les approches théoriques jusqu’à des démonstrateurs expérimentaux ou des bancs de mesure. Au cours des cinq dernières années, on peut noter de nombreux travaux ayant contribué à des réalisations matérielles (ASIC, plateformes expérimentales dédiées, prototypes matériels et/ou logiciels) et conduit à des transferts technologiques.

Open Access Files

64 %

Nombre de Fichiers déposés

241

Nombre de Notices déposées

144

Politique des éditeurs en matière de dépôt dans une archive ouverte

Cartographie des collaborations

Tags

Quantum computing Electrothermal simulation Power demand Hardware ADC Low-cost measurements Beyond-CMOS devices Interconnects RSA Noise measurement Performance Microprocessors FDSOI technology EM fault injection Noise Logic gates Carbon nanotube Indirect testing NP-hard problems Qubit Carbon nanotubes Phase shifter Oscillatory Neural Networks Automatic test pattern generation Insulator-Metal-Transition IMT MEMS Calibration Bioimpedance spectroscopy Oscillatory Neural Network Mutual information Side-channel attacks 1-bit acquisition Education Bio-logging Edge artificial intelligence edge AI Fault attacks OQPSK Digital ATE RF test Error mitigation Electronic tagging Magnetic tunneling Fault tolerance Vanadium dioxide Edge AI Ensemble methods Circuit faults Test Specifications Analog/RF integrated circuits Reliability Indirect test Quantum Pattern recognition Time-domain analysis Evaluation Convective accelerometer Through-silicon vias Process variability Test efficiency Integrated circuit testing Hardware security Circuit simulation Sensors Deep learning One bit acquisition Low-power ZigBee Alternate testing Test cost reduction Image Edge Detection Integrated circuit modeling Test confidence Phase noise Computer architecture 3D integration Energy Digital signal processing SEU SRAM Side-channel analysis Analog signals Three-dimensional integrated circuits Bioimpedance Oscillatory neural networks ONN Three-dimensional displays RF integrated circuits Integrated circuits Self-heating Transistors Technology computer-aided design TCAD Self-oscillations Machine-learning algorithms Current mirror Neuromorphic computing Switches Oscillatory neural network Delays Countermeasures Integrated circuit noise